2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
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Pub Date : 2015-12-07
DOI: 10.1109/IEDM.2015.7409742
M. Duan, J. F. Zhang, A. Manut, Z. Ji, W. Zhang, A. Asenov, L. Gerrer, D. Reid, H. Razaidi, D. Vigar, V. Chandra, R. Aitken, B. Kaczer, G. Groeseneken
Pub Date : 2015-12-07
DOI: 10.1109/IEDM.2015.7409717
G. Piccolboni, G. Molas, J. Portal, R. Coquand, M. Bocquet, D. Garbin, E. Vianello, C. Carabasse, V. Delaye, C. Pellissier, T. Magis, C. Cagli, M. Gely, O. Cueto, D. Deleruyelle, G. Ghibaudo, B. De Salvo, L. Perniola
Pub Date : 2015-12-01
DOI: 10.1109/IEDM.2015.7409810
Wenjie Lu, Jin K. Kim, J. Klem, S. Hawkins, J. D. del Alamo
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