NBS光电探测器光谱响应校准传递程序

E. Zalewski
{"title":"NBS光电探测器光谱响应校准传递程序","authors":"E. Zalewski","doi":"10.6028/NBS.SP.250-17","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Utilisation d'un radiometre a base de photodiodes en silicium pour l'etalonnage en longueur d'onde des photodetecteurs entre 250 et 1064 nanometres","PeriodicalId":212922,"journal":{"name":"National Bureau of Standards, Special Publication","volume":null,"pages":null},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"1900-01-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"17","resultStr":"{\"title\":\"The NBS photodetector spectral response calibration transfer program\",\"authors\":\"E. Zalewski\",\"doi\":\"10.6028/NBS.SP.250-17\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Utilisation d'un radiometre a base de photodiodes en silicium pour l'etalonnage en longueur d'onde des photodetecteurs entre 250 et 1064 nanometres\",\"PeriodicalId\":212922,\"journal\":{\"name\":\"National Bureau of Standards, Special Publication\",\"volume\":null,\"pages\":null},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"1900-01-01\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"17\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"National Bureau of Standards, Special Publication\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.6028/NBS.SP.250-17\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"National Bureau of Standards, Special Publication","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.6028/NBS.SP.250-17","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 17

摘要

使用基于硅光电二极管的辐射计校准波长在250至1064纳米之间的光电探测器
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
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The NBS photodetector spectral response calibration transfer program
Utilisation d'un radiometre a base de photodiodes en silicium pour l'etalonnage en longueur d'onde des photodetecteurs entre 250 et 1064 nanometres
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Preparation and certification of SRM-2530, ellipsometric parameters Δ and ψ and derived thickness and refractive index of a silicon dioxide layer on silicon SURFACE POTENTIAL AS A LASER DAMAGE DIAGNOSTIC. CHARGE EMISSION AND ACCUMULATION IN MULTIPLE-PULSE DAMAGE OF SILICON. Charge Emission and Related Precursor Events Associated with Laser Damage Strengthening CsI Crystals for Optical Applications
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GB/T 7714-2015
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