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IF:
-
Parameterisation of interstitial iron-related defects in silicon wafers using injection-dependent lifetime spectroscopy
用注入依赖寿命光谱参数化硅晶圆中间隙铁相关缺陷
IF 2.8
4区 材料科学
Q3 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY
Applied Physics A
Pub Date : 2026-03-11
DOI: 10.1007/s00339-026-09388-3
Mohamed MaoudJ, Djoudi Bouhafs