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Étude et propriétés des métaux最新文献

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Données cristallographiques des principaux métaux et métaloïdes 主要金属和非金属的晶体学数据
Pub Date : 2009-03-10 DOI: 10.51257/a-v1-m4050
J. Morniroli
La connaissance des structures cristallines et des principaux parametres cristallographiques des metaux et non-metaux purs est fondamentale pour la comprehension des phenomenes se produisant lors de leur elaboration et de leur transformation ou lorsqu'ils sont soumis a diverses sollicitations. Cet article presente les donnees cristallographiques des principaux metaux et metalloides : structure cristalline, groupe spatial, positions de Wyckoff, parametres reticulaires.
了解纯金属和非金属的晶体结构和主要晶体学参数对于理解它们在加工和转化过程中或在各种应力下发生的现象是至关重要的。本文介绍了主要金属和非金属类的晶体学数据:晶体结构、空间群、威科夫位置、晶格参数。
{"title":"Données cristallographiques des principaux métaux et métaloïdes","authors":"J. Morniroli","doi":"10.51257/a-v1-m4050","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m4050","url":null,"abstract":"La connaissance des structures cristallines et des principaux parametres cristallographiques des metaux et non-metaux purs est fondamentale pour la comprehension des phenomenes se produisant lors de leur elaboration et de leur transformation ou lorsqu'ils sont soumis a diverses sollicitations. Cet article presente les donnees cristallographiques des principaux metaux et metalloides : structure cristalline, groupe spatial, positions de Wyckoff, parametres reticulaires.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"1 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2009-03-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"127970101","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
引用次数: 1
Propriétés du zirconium et du hafnium 锆和铪的性质
Pub Date : 2009-03-01 DOI: 10.51257/a-v2-m4785
P. Barbéris
Le zirconium et le hafnium sont des metaux de la quatrieme colonne du tableau periodique : le minerai de zirconium contient toujours de l'ordre de 2% de hafnium. Ces metaux furent developpes pour des applications nucleaires, a cause de la transparence aux neutrons du zirconium, et de la forte section de capture des neutrons du hafnium. Dans cet article sont rassemblees quelques proprietes physiques et mecaniques. Leur excellente resistance a la corrosion dans de nombreux milieux (excepte certains milieux fluores ou chlores) qui permet leur utilisation dans l'industrie chimique est illustree. Leur mise en oeuvre, proche de celle du titane, est resumee. Ils ne se soudent pas a l'acier ou a la plupart des autres materiaux. A l'etat finement divise, ils presentent des risques d'inflammabilite.
锆和铪是周期表第四列的金属:锆矿石中铪的含量总是在2%左右。这些金属是为核应用而开发的,因为锆的中子透明度和铪的强中子捕获截面。本文收集了一些物理和机械性能。说明了它们在许多环境(某些氟或氯环境除外)中优异的耐腐蚀性,使它们能够在化学工业中使用。总结了它们的应用,类似于钛的应用。它们不能与钢或大多数其他材料焊接。在精细划分的状态下,它们有着火的危险。
{"title":"Propriétés du zirconium et du hafnium","authors":"P. Barbéris","doi":"10.51257/a-v2-m4785","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v2-m4785","url":null,"abstract":"Le zirconium et le hafnium sont des metaux de la quatrieme colonne du tableau periodique : le minerai de zirconium contient toujours de l'ordre de 2% de hafnium. Ces metaux furent developpes pour des applications nucleaires, a cause de la transparence aux neutrons du zirconium, et de la forte section de capture des neutrons du hafnium. Dans cet article sont rassemblees quelques proprietes physiques et mecaniques. Leur excellente resistance a la corrosion dans de nombreux milieux (excepte certains milieux fluores ou chlores) qui permet leur utilisation dans l'industrie chimique est illustree. Leur mise en oeuvre, proche de celle du titane, est resumee. Ils ne se soudent pas a l'acier ou a la plupart des autres materiaux. A l'etat finement divise, ils presentent des risques d'inflammabilite.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"3 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2009-03-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"125332704","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Analyse chimique locale 用透射电子显微镜(tem)研究金属。局部化学分析
Pub Date : 2008-09-10 DOI: 10.51257/a-v1-m4136
M. Karlík, B. Jouffrey
Pour la comprehension des proprietes des materiaux, l'analyse chimique locale en microscopie electronique est de plus en plus utilisee. Dans ce dossier, sont decrites, de maniere pratique, les deux techniques qui equipent les microscopes actuels, l'analyse des rayons X caracteristiques et la spectrometrie des pertes d'energie. Dans la partie pertes d'energie, les transitions de faible energie, telles qu’excitations de plasmons, transitions interbandes ou effet Cerenkov ne sont pas traitees. Seule l'utilisation des seuils d'ionisation caracteristiques des atomes est abordee.
为了了解材料的性能,越来越多地使用电子显微镜中的局部化学分析。本文件以实用的方式描述了目前显微镜的两种技术:特性X射线分析和能量损失光谱法。在能量损失部分,低能量跃迁,如等离子体激发,带间跃迁或切伦科夫效应没有处理。只讨论了原子电离阈值的使用。
{"title":"Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Analyse chimique locale","authors":"M. Karlík, B. Jouffrey","doi":"10.51257/a-v1-m4136","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m4136","url":null,"abstract":"Pour la comprehension des proprietes des materiaux, l'analyse chimique locale en microscopie electronique est de plus en plus utilisee. Dans ce dossier, sont decrites, de maniere pratique, les deux techniques qui equipent les microscopes actuels, l'analyse des rayons X caracteristiques et la spectrometrie des pertes d'energie. Dans la partie pertes d'energie, les transitions de faible energie, telles qu’excitations de plasmons, transitions interbandes ou effet Cerenkov ne sont pas traitees. Seule l'utilisation des seuils d'ionisation caracteristiques des atomes est abordee.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"45 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2008-09-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"134431255","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Formation des images 用透射电子显微镜(tem)研究金属-成像
Pub Date : 2008-09-10 DOI: 10.51257/a-v1-m4135
M. Karlík, B. Jouffrey
La microscopie electronique en transmission est basee sur l'interaction des electrons avec la matiere qui entraine une distribution non uniforme de l'intensite du faisceau sur la face de sortie de la lame mince. Cependant, cette non-uniformite ne permet pas, en general, d'obtenir une image avec un contraste suffisant. Pour avoir des images exploitables, il faut seulement selectionner une partie du faisceau d'electrons a l'aide d'un diaphragme. Le contraste est donc cree par les manipulations de l'operateur et depend du processus operatoire.
透射电子显微镜是基于电子与材料的相互作用,导致光束强度在薄片出口面上的不均匀分布。然而,这种不均匀性通常不允许获得足够对比度的图像。为了获得可操作的图像,只需要使用膜片选择电子束的一部分。因此,对比是由操作人员的操作产生的,并依赖于操作过程。
{"title":"Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Formation des images","authors":"M. Karlík, B. Jouffrey","doi":"10.51257/a-v1-m4135","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m4135","url":null,"abstract":"La microscopie electronique en transmission est basee sur l'interaction des electrons avec la matiere qui entraine une distribution non uniforme de l'intensite du faisceau sur la face de sortie de la lame mince. Cependant, cette non-uniformite ne permet pas, en general, d'obtenir une image avec un contraste suffisant. Pour avoir des images exploitables, il faut seulement selectionner une partie du faisceau d'electrons a l'aide d'un diaphragme. Le contraste est donc cree par les manipulations de l'operateur et depend du processus operatoire.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"100 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2008-09-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"133364865","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Données thermodynamiques des éléments chimiques 化学元素的热力学数据
Pub Date : 2008-09-10 DOI: 10.51257/a-v1-m4055
B. Cheynet
L'association Thermodata gere depuis 1974 une banque de donnees numeriques selectionnees et critiquees, couvrant les domaines de la metallurgie et de la chimie minerale dite seche (non aqueuse). Les valeurs contenues dans cet article ont ete extraites de la banque de donnees et sont presentees sous forme de tableaux. Dans cet article, les proprietes des elements sont presentees en fonction de la temperature exprimee en kelvins et pour une pression standard de 1 atm.
自1974年以来,Thermodata协会一直在管理一个选定和关键的数字数据库,涵盖冶金和矿物化学领域,称为干(非水)。本文中的值是从数据库中提取的,并以表格形式呈现。在这篇文章中,元素的性能是温度的函数,以开尔文表示,在1atm的标准压力下。
{"title":"Données thermodynamiques des éléments chimiques","authors":"B. Cheynet","doi":"10.51257/a-v1-m4055","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m4055","url":null,"abstract":"L'association Thermodata gere depuis 1974 une banque de donnees numeriques selectionnees et critiquees, couvrant les domaines de la metallurgie et de la chimie minerale dite seche (non aqueuse). Les valeurs contenues dans cet article ont ete extraites de la banque de donnees et sont presentees sous forme de tableaux. Dans cet article, les proprietes des elements sont presentees en fonction de la temperature exprimee en kelvins et pour une pression standard de 1 atm.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"75 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2008-09-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"133032443","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Microscope, échantillons et diffraction 用透射电子显微镜(tem)研究金属。显微镜,样品和衍射
Pub Date : 2008-06-10 DOI: 10.51257/a-v1-m4134
M. Karlík, B. Jouffrey
La microscopie electronique a transmission (MET), en donnant de l’objet mince une image globale avec une resolution meilleure qu’un dixieme de nanometre, est une des techniques qui permettent l’etude des materiaux a l’echelle nanometrique. Elle est basee sur le fait que les electrons sont des particules chargees dont les trajectoires sont modifiables par l’action de champs magnetiques et electrostatiques. Apres un descriptif de l’appareil, cet article expose les differentes methodes de preparation des echantillons. Sont ensuite exposees les parametres et les choix techniques existants lors de l’utilisation d’un MET, ainsi que les problemes frequemment rencontres. Pour terminer, est introduite la methode de diffraction en faisceau convergent.
透射电子显微镜(tem)是一种允许在纳米尺度上研究材料的技术,它能以超过十分之一纳米的分辨率提供薄物体的整体图像。它是基于这样一个事实:电子是带电粒子,其轨迹可以被磁场和静电场改变。在对仪器进行了描述之后,本文介绍了不同的样品制备方法。然后给出了使用透射电镜时存在的参数和技术选择,以及经常遇到的问题。最后介绍了收敛光束衍射法。
{"title":"Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Microscope, échantillons et diffraction","authors":"M. Karlík, B. Jouffrey","doi":"10.51257/a-v1-m4134","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m4134","url":null,"abstract":"La microscopie electronique a transmission (MET), en donnant de l’objet mince une image globale avec une resolution meilleure qu’un dixieme de nanometre, est une des techniques qui permettent l’etude des materiaux a l’echelle nanometrique. Elle est basee sur le fait que les electrons sont des particules chargees dont les trajectoires sont modifiables par l’action de champs magnetiques et electrostatiques. Apres un descriptif de l’appareil, cet article expose les differentes methodes de preparation des echantillons. Sont ensuite exposees les parametres et les choix techniques existants lors de l’utilisation d’un MET, ainsi que les problemes frequemment rencontres. Pour terminer, est introduite la methode de diffraction en faisceau convergent.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"35 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2008-06-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"125165011","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Diffraction électronique dans les métaux et alliages : illumination convergente 金属和合金的电子衍射:收敛照明
Pub Date : 2008-06-10 DOI: 10.51257/a-v1-m4128
P. Vermaut, R. Portier, B. Jouffrey
La microscopie electronique, basee sur la diffraction des electrons par la matiere, permet d’acceder a des informations dans les deux espaces, le direct en mode image et l’indirect en mode diffraction. Ces techniques de diffraction sont nombreuses, le choix est fonction du probleme pose. Cet article expose les techniques de diffraction en faisceau convergent classique et a grand angle. Pour ces deux approches, le faisceau incident est sous forme d’illumination conique, avec un angle d’ouverture plus ou moins grand et ne peut donc etre represente par un seul vecteur d’onde. Lorsque la region de l'echantillon illuminee se reduit a une faible surface, on parle de microdiffraction. Est abordee egalement la technique de precession, pour laquelle l’illumination se fait par un ensemble d’ondes planes dont les vecteurs d’onde en variant decrivent un cone.
电子显微镜,基于电子通过材料的衍射,允许在两个空间访问信息,直接在图像模式和间接在衍射模式。这些衍射技术有很多,选择取决于所提出的问题。本文介绍了经典和广角收敛光束衍射技术。在这两种方法中,入射光束都是锥形照明,其孔径角或大或小,因此不能用单个波矢量表示。当被照亮的样品区域缩小到一个小的表面时,称为显微衍射。还讨论了进近技术,其中照明是由一组平面波,其波矢量变化描述一个锥。
{"title":"Diffraction électronique dans les métaux et alliages : illumination convergente","authors":"P. Vermaut, R. Portier, B. Jouffrey","doi":"10.51257/a-v1-m4128","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m4128","url":null,"abstract":"La microscopie electronique, basee sur la diffraction des electrons par la matiere, permet d’acceder a des informations dans les deux espaces, le direct en mode image et l’indirect en mode diffraction. Ces techniques de diffraction sont nombreuses, le choix est fonction du probleme pose. Cet article expose les techniques de diffraction en faisceau convergent classique et a grand angle. Pour ces deux approches, le faisceau incident est sous forme d’illumination conique, avec un angle d’ouverture plus ou moins grand et ne peut donc etre represente par un seul vecteur d’onde. Lorsque la region de l'echantillon illuminee se reduit a une faible surface, on parle de microdiffraction. Est abordee egalement la technique de precession, pour laquelle l’illumination se fait par un ensemble d’ondes planes dont les vecteurs d’onde en variant decrivent un cone.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"19 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2008-06-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"115119994","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Diffraction électronique : illumination parallèle 电子衍射:平行照明
Pub Date : 2008-03-10 DOI: 10.51257/a-v1-m4127
R. Portier, P. Vermaut, B. Jouffrey
Apres avoir detaille les caracteristiques de l'interaction rayonnement-matiere et souligne les differences entre le rayonnement electronique, les rayons X et les neutrons dans les dossiers [M 4 125] et [M 4 126], nous allons nous interesser a la diffraction des electrons obtenue en pratique avec un microscope electronique. Il s'agit donc d'electrons de haute energie qui interagissent fortement avec le potentiel cristallin d'un specimen mince dans des situations experimentales differentes permises par la grande souplesse des conditions d'illumination que l'on peut obtenir avec un microscope moderne. En premier lieu, a partir d'une description sommaire du principe de base d'un microscope electronique, nous verrons comment se realisent les conditions de diffraction a l'infini (diffraction de Fraunhoffer [M 4 126]. De ce fait, il sera hautement formateur d'examiner la correspondance « geometrique » entre un objet bidimensionnel connu et son diagramme de diffraction obtenu en en realisant la transformation de Fourier. Ensuite, nous examinerons les differents modes operatoires pour acquerir l'information dans l'espace reciproque [M 4 125], apres avoir sommairement signale la consequence fondamentale liee a la diffraction des electrons rapides.
detaille完rayonnement-matiere交互特征之间的差异,并强调电子辐射、X射线和中子的档案中[4]和[125米4 126],我们就流行起来了》评出electrons实际上与一个电子显微镜衍射。因此,这些高能电子在不同的实验条件下与薄标本的晶体电位发生强烈的相互作用,这是现代显微镜所能获得的照明条件的巨大灵活性所允许的。首先,在对电子显微镜基本原理的简要描述的基础上,我们将看到无限衍射条件是如何实现的(Fraunhoffer衍射[m4126])。因此,研究已知二维物体与其通过傅里叶变换得到的衍射图之间的“几何”对应关系将是非常有用的。然后,我们将研究在相互空间中获取信息的不同操作模式[m4 125],在简要指出与快速电子衍射有关的基本结果之后。
{"title":"Diffraction électronique : illumination parallèle","authors":"R. Portier, P. Vermaut, B. Jouffrey","doi":"10.51257/a-v1-m4127","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m4127","url":null,"abstract":"Apres avoir detaille les caracteristiques de l'interaction rayonnement-matiere et souligne les differences entre le rayonnement electronique, les rayons X et les neutrons dans les dossiers [M 4 125] et [M 4 126], nous allons nous interesser a la diffraction des electrons obtenue en pratique avec un microscope electronique. Il s'agit donc d'electrons de haute energie qui interagissent fortement avec le potentiel cristallin d'un specimen mince dans des situations experimentales differentes permises par la grande souplesse des conditions d'illumination que l'on peut obtenir avec un microscope moderne. En premier lieu, a partir d'une description sommaire du principe de base d'un microscope electronique, nous verrons comment se realisent les conditions de diffraction a l'infini (diffraction de Fraunhoffer [M 4 126]. De ce fait, il sera hautement formateur d'examiner la correspondance « geometrique » entre un objet bidimensionnel connu et son diagramme de diffraction obtenu en en realisant la transformation de Fourier. Ensuite, nous examinerons les differents modes operatoires pour acquerir l'information dans l'espace reciproque [M 4 125], apres avoir sommairement signale la consequence fondamentale liee a la diffraction des electrons rapides.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"48 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2008-03-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"133474696","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
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Essais de mesure de la ténacité - Mécanique de la rupture 韧性测量试验。断裂力学
Pub Date : 2007-12-10 DOI: 10.51257/a-v1-m4166
D. François
Les essais par choc ne permettent pas de prevoir la rupture de pieces fissurees. Or, il s'agit la d'une preoccupation majeure dans l’industrie. Pour repondre, a cela, de nouveaux essais et notamment des essais de tenacite ont ete mis au point. En effet, la mecanique de la rupture etablit une relation quantitative entre la charge a laquelle est soumise une piece, les dimensions d'une fissure et la propriete du materiau appelee tenacite. Les essais de determination de la tenacite comprennent ceux fondes sur la mecanique de la rupture en elasticite lineaire, ceux fondes sur la mecanique de la rupture en elasto-plasticite et ceux fondes sur l'approche locale.
冲击试验不能预测断裂部件的断裂。然而,这是工业界的一个主要问题。为了满足这一要求,进行了新的试验,特别是韧性试验。事实上,断裂力学建立了施加在工件上的载荷、裂纹尺寸和称为韧性的材料性能之间的定量关系。韧性测定试验包括基于线性弹性断裂力学、弹性体塑性断裂力学和局部方法的试验。
{"title":"Essais de mesure de la ténacité - Mécanique de la rupture","authors":"D. François","doi":"10.51257/a-v1-m4166","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m4166","url":null,"abstract":"Les essais par choc ne permettent pas de prevoir la rupture de pieces fissurees. Or, il s'agit la d'une preoccupation majeure dans l’industrie. Pour repondre, a cela, de nouveaux essais et notamment des essais de tenacite ont ete mis au point. En effet, la mecanique de la rupture etablit une relation quantitative entre la charge a laquelle est soumise une piece, les dimensions d'une fissure et la propriete du materiau appelee tenacite. Les essais de determination de la tenacite comprennent ceux fondes sur la mecanique de la rupture en elasticite lineaire, ceux fondes sur la mecanique de la rupture en elasto-plasticite et ceux fondes sur l'approche locale.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"445 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2007-12-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"116069814","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
引用次数: 3
Essais de rupture - Essais par choc 断裂试验。冲击试验
Pub Date : 2007-12-10 DOI: 10.51257/a-v1-m4165
D. François
Cet article traite des ruptures brutales qui interviennent au cours du chargement ou en fin de duree de vie lorsque les fissures a croissance lente atteignent une valeur critique. Apres une description succincte des mecanismes de rupture brutale, la transition de ductilite des aciers ferritiques est presentee, avec un accent sur les facteurs influencant cette rupture et notamment la notion de temperature de transition fragile-ductile. Les essais de rupture par choc sont ensuite presentes, depuis les essais Charpy jusqu’aux essais utilisant des eprouvettes de plus grande taille.
本文讨论了在加载过程中或在寿命结束时,当缓慢增长的裂纹达到临界值时发生的突然断裂。在简要描述了突然断裂机制之后,介绍了铁素体钢的延性转变,重点介绍了影响这种转变的因素,特别是脆性-延性转变温度的概念。然后进行冲击断裂试验,从夏比试验到使用更大尺寸试样的试验。
{"title":"Essais de rupture - Essais par choc","authors":"D. François","doi":"10.51257/a-v1-m4165","DOIUrl":"https://doi.org/10.51257/a-v1-m4165","url":null,"abstract":"Cet article traite des ruptures brutales qui interviennent au cours du chargement ou en fin de duree de vie lorsque les fissures a croissance lente atteignent une valeur critique. Apres une description succincte des mecanismes de rupture brutale, la transition de ductilite des aciers ferritiques est presentee, avec un accent sur les facteurs influencant cette rupture et notamment la notion de temperature de transition fragile-ductile. Les essais de rupture par choc sont ensuite presentes, depuis les essais Charpy jusqu’aux essais utilisant des eprouvettes de plus grande taille.","PeriodicalId":318873,"journal":{"name":"Étude et propriétés des métaux","volume":"26 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0,"publicationDate":"2007-12-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":null,"resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":"115138225","PeriodicalName":null,"FirstCategoryId":null,"ListUrlMain":null,"RegionNum":0,"RegionCategory":"","ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":"","EPubDate":null,"PubModel":null,"JCR":null,"JCRName":null,"Score":null,"Total":0}
引用次数: 3
期刊
Étude et propriétés des métaux
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