文献互助
智能选刊
最新文献
×
高级搜索
发布求助
登录
注册
首页
>
最新文献
Advanced quantum technologies最新文献
英文
中文
Quantum Metrology in Anti-PT-Symmetric Systems
反pt对称系统中的量子计量
IF 4.3
Q1 OPTICS
Advanced quantum technologies
Pub Date : 2026-02-10
DOI: 10.1002/qute.202500742
Weijian Jiang, Xinglei Yu, Chengjie Zhang