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International Journal of Numerical Modelling-Electronic Networks Devices and Fields最新文献
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Investigation of Thermal Characteristics of Multilayer Heterostructures for Enhanced GaN HEMT Reliability
提高GaN HEMT可靠性的多层异质结构热特性研究
IF 1.7
4区 工程技术
Q3 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
International Journal of Numerical Modelling-Electronic Networks Devices and Fields
Pub Date : 2026-02-20
DOI: 10.1002/jnm.70154
Haykel Mzoughi, Faouzi Nasri, Lilia El Amraoui